波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀是根據(jù)X射線衍射原理，采用分光晶體為色散件，以布拉格定律為基礎(chǔ)，對(duì)不同波長(zhǎng)特征譜線進(jìn)行分光，然后進(jìn)行探測(cè)。波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀具有分辨率好、靈敏度高的優(yōu)點(diǎn)，可用于固體、粉末或液體物質(zhì)的元素分析，廣泛應(yīng)用在地質(zhì)、冶金、文物、生物、活體、環(huán)境、健康、大氣顆粒物等諸多領(lǐng)域。

 

波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀與能量色散型X射線熒光光譜儀的區(qū)別

 

雖然波長(zhǎng)色散型（ED-XRF）X射線熒光光譜儀與能量色散型（WD-XRF）X射線熒光光譜儀同屬X射線熒光分析儀，它們產(chǎn)生信號(hào)的方法相同，最后得到的波譜或者能譜也極為相似，但由于采集數(shù)據(jù)的方式不同，ED-XRF（波譜）與WD-XRF（能譜）在原理和儀器結(jié)構(gòu)上有所不同，功能也有區(qū)別。

 

一、原理區(qū)別

 

X-射線熒光光譜法，是用X-射線管發(fā)出的初級(jí)線束輻照樣品，激發(fā)各化學(xué)元素發(fā)出二次譜線（X-熒光）。波長(zhǎng)色散型熒光光儀（WD-XRF）是分光晶體將熒光光束色散后，測(cè)定各種元素的含量。而能量色散型X射線熒光光儀（WD-XRF）是借助高分辨率敏感半導(dǎo)體檢測(cè)器與多道分析器將未色散的X-射線按光子能量分離X-射線光譜線，根據(jù)各元素能量的高低來(lái)測(cè)定各元素的量。由于原理不同，故儀器結(jié)構(gòu)也不同。

 

二、結(jié)構(gòu)區(qū)別

 

波長(zhǎng)色散型熒光光譜儀（WD-XRF），一般由光源（X-射線管）、樣品室、分光晶體和檢測(cè)系統(tǒng)等組成。為了準(zhǔn)確測(cè)量衍射光束與入射光束的夾角，分光晶體系安裝在一個(gè)精的測(cè)角儀上，還需要一龐大而精密并復(fù)雜的機(jī)械運(yùn)動(dòng)裝置。由于晶體的衍射，造成強(qiáng)度的損失，要求作為光源的X-射線管的功率要大，一般為2～3千瓦。但X-射線管的效率極低，只有1%的電功率轉(zhuǎn)化為X-射線輻射功率，大部分電能均轉(zhuǎn)化為熱能產(chǎn)生高溫，所以X-射線管需要專門(mén)的冷卻裝置。